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2014-1
進行耐壓測試時，技術規(guī)格不同的被測試品，測量標準也就不同。對一般被測設備，耐壓測試是測量火線與機殼之間的漏電流值，基本規(guī)定是：以兩倍于被測物的工作電壓再加1000V作為測試的標準電壓。部分產(chǎn)品的測試電壓可能高于這一規(guī)定值...
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3
2014-1
測量條件參考：元件規(guī)格測量頻率測量方式備注電容100KHz并聯(lián)電容≥1μF(非電解電容)100Hz并聯(lián)電容≥1μF（電解電容）100Hz串聯(lián)另加直流偏置，比如1V電感＜100nH100KHz串聯(lián)視情況加直流偏置電感≥1H...
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3
2014-1
上升時間：系指待測電壓由0V緩步增加至額定測試電壓所需的時間。一般來說，多使用在DC耐壓測試電容性負載時，以避免電容性待測物因瞬間加壓而產(chǎn)生過大的瞬間充電電流，造成測量的誤判。
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3
2014-1
耐壓測試儀的容量一般指交流測試的輸出功率。因此耐壓測試儀的容量決定于zui大的交流輸出電壓xzui大交流電流。以GPI-74為例：5000Vx40mA(0.04A)=200VA；以GPT-815為例：5000Vx100m...
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2
2014-1
絕緣阻抗(IR)測試是一種定性測試，提供絕緣系統(tǒng)的相對質量的一個表示。測試時通常用500V或1000V的DC電壓進行，結果用兆歐電阻(MΩ)來度量。耐壓測試(Hi-Pot)測試則是一種定量測試，同樣也給DUT施加高壓，但...
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2
2014-1
絕緣阻抗是絕緣材料質量的測量，其測試方式和耐壓測試非常相似。同樣是當電氣產(chǎn)品在未上電的狀態(tài)下，把高達500V(或zui大1000V)的直流電壓施加到需要測試的兩個互相絕緣的點。絕緣阻抗(IR)測試給出的通常是以兆歐(MΩ...
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2014-1
如今隨著電子產(chǎn)品電壓的不斷攀升,400V,600V甚至1000V,能滿足如此高電壓的電子負載型號非常有限。于是很多人就會考慮將多臺電子負載串聯(lián)的辦法,但是絕大部分的電子負載都是無法串聯(lián)使用的。電子負載和直流電源一樣,具有...
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2014-1
耐壓測試既可能是AC耐壓、也可能是DC耐壓，甚至兩者皆需要，*取決于特定產(chǎn)品類型；一般而言，AC耐壓比DC耐壓更常被必須要執(zhí)行。舉例來說，一般消費性電氣產(chǎn)品使用交流電源的情況，多過于使用直流電源。所以，zui低限度，產(chǎn)品...
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2014-1
LCR測試儀的基本準確度，指其在*測試條件下所獲得的準確度。一般而言，基本準確度不包括來自外部可能的誤差，例如測試治具或測試線；并且準確度的取得是當LCR表處于的測試信號、頻率、zui慢的測量速度。而LCR測試儀的實際準...
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2014-1
有可能信號發(fā)生器設為低阻輸出了。現(xiàn)實中的電壓源一般可等效為理想電壓源串聯(lián)內阻（阻值很?。┑姆绞?。函數(shù)信號發(fā)生器高阻輸出時，發(fā)生器的設置值即為模型中理想電壓源的真實值2V。低阻輸出時，應接入與發(fā)生器輸出阻抗匹配的負載網(wǎng)絡，...
